近年來，為了研究和測量作物生長的限制因素等有價值的信息，進(jìn)一步提高作物的生長潛力，實現(xiàn)增產(chǎn)增效的目標(biāo)，許多新的科學(xué)儀器和技術(shù)被應(yīng)用于農(nóng)業(yè)領(lǐng)域。作物冠層分析儀是重要的農(nóng)業(yè)測量儀器之一，其功能是快速、實時地測量有效光合輻射PAR值，用于描述作物冠層PAR的分布，也用于計算冠層葉面積指數(shù)LAI值。
        我們知道光對植物有很大的影響。植物只有在光照條件下才能進(jìn)行正常的光合作用等，以維持其正常的生長需要。因此，利用作物冠層分析儀研究光照對作物生長的影響，對于精準(zhǔn)農(nóng)業(yè)的發(fā)展具有重要意義。作物冠層分析儀的測量原理是當(dāng)光線穿過植物冠層時，由于樹葉和樹枝的遮擋，輻射強度會迅速降低。根據(jù)減少的程度，可以計算出植物的葉量，進(jìn)而計算出LAI。
        與傳統(tǒng)的植物冠層分析相比，作物冠層分析儀是zui簡單、最容易測量的方法。它直接利用光量子傳感器對植物冠層截獲和穿透的光合作用進(jìn)行測量、計算和分析。有效輻射和葉面積指數(shù)，通過一次測量，即可獲得所需的數(shù)據(jù)結(jié)果，無需進(jìn)行復(fù)雜的測量、計算等，為植物研究的開展提供了諸多便利。